Sidebar

Rigaku X 射线衍射仪用于获取高质量的衍射数据，被应用于大学、研究机构和工业流程控制实验室

View the embedded image gallery online at:
https://www.uzong.cn/instruments/chemistry/xrf-xrd/2864-xrd.html#sigProId1e69fe3595

XRD（X 射线衍射）是目前研究晶体结构（如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等）最有力的方法之一。通过样品的 X 射线衍射图与已知的晶态物质的 X 射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定性和定量分析。

 

MiniFlex

MiniFlex600 台式X射线衍射仪

  • 使用 HPAD 探测器进行 X 射线粉末衍射。MiniFlex XRD 系统通过创新的技术进步提供速度和灵敏度，包括 HyPix-400 MF 2D 混合像素阵列探测器 （HPAD） 以及可用的 600 W X 射线源和新的 8 位自动进样器。
  • 混合像素阵列探测器 （HPAD）。这种新型直接光子计数检测器可实现高速、低噪声的数据收集，并且可以在 0D 和 1D 模式下运行，用于常规 XRD 分析，在 2D 模式下运行，用于具有粗晶粒尺寸和/或首选取向的样品。
  • XRD 附件可增强您的 MiniFlex。提供各种 X 射线管阳极 - 以及一系列样品旋转和定位附件，以及各种温度附件 - 以确保 MiniFlex X 射线衍射 （XRD） 系统具有足够的多功能性，能够对各种样品进行具有挑战性的定性和定量分析，无论是进行研究还是常规质量控制。新的（第 6 代）MiniFlex X 射线衍射仪系统通过提供世界上最先进的粉末衍射测量台式系统，体现了理学“以创新为先导”的理念。
  • 先进的粉末衍射软件。每个MiniFlex都标配最新版本的SmartLab Studio-II，这是理学的全功能粉末衍射分析包。最新版本提供了重要的新功能;包括用于更准确峰计算的基本参数方法 （FP）、使用晶体学开放数据库 （COD） 的物相鉴定以及用于 ab inito 晶体结构分析的向导。
Smartlab 200200

SmartLab系列 智能X射线衍射仪

  • 这种新型 X 射线衍射系统采用 PhotonMax 高通量 9 kW 旋转阳极 X 射线源，以及支持 0D、1D 和 2D 测量模式的 HyPix-3000 高能分辨率 2D 多维半导体探测器，允许使用单个探测器处理所有应用，消除了为不同应用准备和切换单个探测器的不便。HyPix-3000 检测器可用于获得 2D 粉末衍射图，可以使用所有 2D 图样信息对其进行处理，以提供卓越的定性分析。该系统结合了高分辨率 θ/θ 闭环测角仪驱动系统和可用的面内衍射臂。该系统的新型交叉光束光学器件 （CBO） 系列具有全自动可切换反射和透射光学器件 （CBO-Auto） 功能。
  • XRD 专为易用性而设计。将计算机控制的对准系统与全自动光学系统以及 SmartLab Studio II 软件中的用户指南功能相结合，可以轻松地在硬件模式之间切换，确保硬件复杂性永远不会阻碍您的研究。
  • 重新定义功能的 XRD。无论您是在处理薄膜、纳米材料、粉末还是液体，SmartLab 都能为您提供 XRD 功能，让您在需要的时候进行所需的测量。该设备接受粉末、液体、薄膜甚至纺织品样品，并允许在合适的样品中进行映射测量。操作性（又名实时原位）测量可以使用新的 Rigaku SmartLab Studio II 软件套件进行，该软件套件是一个集成软件平台，结合了从测量到分析的所有功能。该系统还具有强大的安全和验证协议，以确保任何技术组件（软件或硬件）都能在监管指南（包括 21 CFR Part 11）实现其目的，该法规建立了管理电子记录和电子签名 （ER/ES） 的美国 EDA 法规。
Ultima IV 200200

Ultima IV 组合型多功能水平X射线衍射仪（已停产）

  • 水平测角仪：特别适合粉末类样品，尤其是易于产生取向效应的样品
  • 全自动狭缝调整装置（专利技术）
  • 光路系统自动调整校准：配备最先进的X-射线光路自动调整校准模式
  • 独特的光学系统，可实现交叉光路和平行光路的自动程序互换（专利技术）
  • 丰富的功能附件保障了仪器升级的可能
  • 理学公司最新高速X-射线检测器，检测器的速度和强度大幅提高
  • 全新的软件设计理念，丰富的内容, 简明流畅

理学MiniFlex X射线衍射仪（XRD）具有历史意义，因为它是第一台商用台式（台式或台式）X射线衍射仪。1973 年推出时，最初的 Miniflex™ 台式 XRD 的尺寸约为当时传统 X 射线衍射 （XRD） 设备的十分之一，而且成本要低得多。最初的仪器（第 1 代）及其于 1976 年推出的继任者（第 2 代）采用了水平测角仪，数据输出由内部带状图记录仪提供。第三代（第 3 代）台式衍射仪于 1995 年推出，称为 Miniflex+。它使 X 射线功率大幅提高到 450 瓦（通过在 30kV 和 15mA 下运行）和 Windows PC 计算机控制。Miniflex+ 和后续几代台式衍射仪均采用垂直测角仪，并允许使用自动进样器。第四代（第 4 代）Miniflex II 台式 XRD 于 2006 年推出，它改进了单色 X 射线源和 D/teX Ultra 1D 硅条探测器。第五代（第 5 代）台式 XRD 于 2012 年推出，在此基础上构建了 600W 的可用功率和新的粉末衍射软件。

主要特点：
台式X射线衍射仪MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪。

  • 打破以往X射线分析仪器常规，以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准；
  • 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计，使仪器移动、安装均能简单自如完成，可充分调整光学系统；
  • 安装后接入电源即可开始使用，操作简单，初学者也能轻松自如；
  • 具有超高性价比的MiniFlex 600，为您开创轻松自由的X射线新时代。

技术参数

  • 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm，高700mm，深395mm；重量约80kg。
  • 功率600W，强度大大提高（上一代产品MiniFlexII最大功率450W）。
  • 测角仪精度高、放置样品方便。
  • 测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。
  • 安全设计，放置样品时自动关闭X射线。
  • 软件丰富
  • 附件可配：
  • 计数端单色器，扣除Kβ、荧光X射线，提高P/B比
  • 旋转样品台
  • 隔绝空气。水蒸气样品台
  • 六样品自动交换器
  • 高速一维阵列探测器D/teX Ultra2

主要的应用软件有：

  • 多重记录
  • 定性分析
  • 定量分析
  • ICDD数据库管理
  • 环境粉尘专用定量软件

 

智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

技术参数

  • X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
  • 测角仪为水平测角仪
  • 测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）
  • 测角仪配程序式可变狭缝
  • 自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）
  • CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）
  • 小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)
  • 多用途薄膜测试组件
  • 微区测试组件、CBO-F微区光学组件
  • In-Plane测试组件（理学独有）
  • 入射端Ka1光学组件
  • 高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）
  • 二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)
  • 智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）

主要的应用有：

  • 粉末样品的物相定性与定量分析
  • 计算结晶化度、晶粒大小
  • 确定晶系、晶粒大小与畸变
  • Rietveld定量分析
  • 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
  • In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
  • 小角散射与纳米材料粒径分布
  • 微区样品的分析
  • 方便的无损样品制备。

 

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。

 技术参数

  • X射线发生器功率为3KW
  • 测角仪为水平测角仪
  • 测角仪最小步进为1/10000度
  • 测角仪配程序式可变狭缝
  • 高反射效率的石墨单色器
  • CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）
  • 小角散射测试组件
  • 多用途薄膜测试组件
  • 微区测试组件
  • In-Plane测试组件（理学独有）
  • 高速探测器D/teX-Ultra
  • X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
  • 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 

主要特点：

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有：

  • 粉末样品的物相定性与定量分析
  • 计算结晶化度、晶粒大小
  • 确定晶系、晶粒大小与畸变
  • Rietveld结构分析
  • 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
  • In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
  • 小角散射与纳米材料粒径分布
  • 微区样品的分析

 

 

主要的应用有：

  • 粉末样品的物相定性与定量分析
  • 计算结晶化度、晶粒大小
  • 确定晶系、晶粒大小与畸变
  • Rietveld定量分析
  • 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
  • In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
  • 小角散射与纳米材料粒径分布
  • 微区样品的分析
  • 方便的无损样品制备。

仪器性能和维护对于实验室的运行来说至关重要，禹重科技为您提供培训、仪器服务计划或按需维修服务，帮助您获得准确可靠的结果以及最长的仪器正常运行时间。我们很清楚保持仪器的最优性能对提高您的生产力极为重要，因此，我们定能在您需要时为您排忧解难。

通过与禹重的合作，您不仅可以获得最好的分析仪器，而且还将拥有未来最佳的合作伙伴

« ARL EQUINOX 100 X 射线衍射仪体积精巧，用于 QA/QC、科研和常规 X 射线衍射应用的利器