科学仪器 • 实验方案 • 计量检测 • 设备运维
科学仪器 • 实验方案 • 计量检测 • 设备运维
Verios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度,满足材料精密测量所需,同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。
Verios 的生命科学应用
Verios XHR SEM 优势
Verios 的电子工业应用
Verios 的材料科学应用
扫描电镜广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析,各种材料的形貌组织观察,材料断口分析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体、晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量。
仪器性能和维护对于实验室的运行来说至关重要,禹重为您提供培训、仪器服务计划或按需维修服务,帮助您获得准确可靠的结果以及最长的仪器正常运行时间。我们很清楚保持仪器的最优性能对提高您的生产力极为重要,因此,我们定能在您需要时为您排忧解难。
通过与禹重的合作,您不仅可以获得最好的分析仪器,而且还将拥有未来最佳的合作伙伴